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本发明涉及使用无监督机器学习的自动全芯片设计空间采样。一种示例性方法包括：读取作为要分析的当前布局的布局；将当前布局分割为n个子布局，其中n是正整数，以使每个子布局适合预定存储器；对子布局中的每一者执行聚类步骤，包括扫描各个子布局的特征并将...
该专利属于格罗方德半导体股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过格罗方德半导体股份有限公司授权不得商用。

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