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本发明提供的存储器IP模块寄生参数的提取方法中，包括：获取存储器的电路版图，所述电路版图包括存储单元阵列及外围电路；对所述电路版图进行电路检查，将所述存储单元阵列与存储器的电路结构一一对应，并通过所述电路检查；将所述存储单元阵列作为一整体单...
该专利属于上海华虹宏力半导体制造有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华虹宏力半导体制造有限公司授权不得商用。

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