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本实用新型公开了一种数字芯片故障检测电路，待检测数字芯片的VDD引脚经第一霍尔传感器、第一继电器与电源的+5V引脚连接；待检测数字芯片的GND引脚经第二霍尔传感器、第二继电器与电源的GND引脚连接；待检测数字芯片的输入端连接第一多选一开关的...
该专利属于南京信息工程大学所有，仅供学习研究参考，未经过南京信息工程大学授权不得商用。

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