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本实用新型适用于太赫兹测量技术领域，尤其涉及一种自参考太赫兹电光取样光谱干涉仪及测量系统。本实用新型所提供的自参考太赫兹电光取样光谱干涉仪包括脉冲展宽器、宽带半波片、透镜、太赫兹电光晶体、双折射晶体、线偏振器以及光谱仪。上述光学元件通过巧妙...
该专利属于深圳大学所有，仅供学习研究参考，未经过深圳大学授权不得商用。

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