一种自参考太赫兹电光取样光谱干涉仪及测量系统技术方案

本实用新型专利技术适用于太赫兹测量技术领域，尤其涉及一种自参考太赫兹电光取样光谱干涉仪及测量系统。本实用新型专利技术所提供的自参考太赫兹电光取样光谱干涉仪包括脉冲展宽器、宽带半波片、透镜、太赫兹电光晶体、双折射晶体、线偏振器以及光谱仪。上述光学元件通过巧妙的自参考干涉结构设计，在基于电光采样及光谱干涉原理的基础上，采用啁啾脉冲为探针实现了对高强度太赫兹脉冲时域光谱的单次测量。

【技术实现步骤摘要】
一种自参考太赫兹电光取样光谱干涉仪及测量系统
本技术属于太赫兹测量
，尤其涉及一种自参考太赫兹电光取样光谱干涉仪及测量系统。
技术介绍
太赫兹波具有高透视性、高安全性、高光谱分辨率等独特的性质，因此具有重要的学术价值和应用潜力。随着太赫兹光学技术的不断进步，太赫兹信号源的强度不断增强，催生了太赫兹强场和非线性光谱学。然而，由于太赫兹脉冲强度已经足够强，传统的太赫兹光电导采样和电光采样两种常用的技术已经不再适用，传统的技术无法有效的测量具有高信噪比的强太赫兹脉冲。
技术实现思路
本技术提供了一种自参考太赫兹电光取样光谱干涉仪，旨在解决无法有效的测量具有高信噪比的强太赫兹脉冲的问题。为解决上述技术问题，本技术是这样实现的，本技术提供了一种自参考太赫兹电光取样光谱干涉仪，该干涉仪包括：脉冲展宽器，用于将入射的探测脉冲展宽成啁啾脉冲，所述已展宽成啁啾脉冲的探测脉冲入射至宽带半波片；所述宽带半波片，用于调整所述已展宽成啁啾脉冲的探测脉冲的偏振方向，已调整偏振方向的探测脉冲入射至透镜；所述透镜，用于将所述已调整偏振方向的探测脉冲聚焦至太赫兹电光晶体；所述太赫兹电光晶体，用于使所述探测脉冲与入射的待本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种自参考太赫兹电光取样光谱干涉仪，其特征在于，所述干涉仪包括：脉冲展宽器，用于将入射的探测脉冲展宽成啁啾脉冲，所述已展宽成啁啾脉冲的探测脉冲入射至宽带半波片；所述宽带半波片，用于调整所述已展宽成啁啾脉冲的探测脉冲的偏振方向，已调整偏振方向的探测脉冲入射至透镜；所述透镜，用于将所述已调整偏振方向的探测脉冲聚焦至太赫兹电光晶体；所述太赫兹电光晶体，用于使所述探测脉冲与入射的待测太赫兹脉冲重合，以实现将所述待测太赫兹脉冲的太赫兹场强信号加载到所述探测脉冲中，已加载有太赫兹场强信号的探测脉冲入射至双折射晶体；所述双折射晶体，用于使所述已加载有太赫兹场强信号的探测脉冲生成相互时间延迟的脉冲对，分别为o...

【技术特征摘要】
1.一种自参考太赫兹电光取样光谱干涉仪，其特征在于，所述干涉仪包括：脉冲展宽器，用于将入射的探测脉冲展宽成啁啾脉冲，所述已展宽成啁啾脉冲的探测脉冲入射至宽带半波片；所述宽带半波片，用于调整所述已展宽成啁啾脉冲的探测脉冲的偏振方向，已调整偏振方向的探测脉冲入射至透镜；所述透镜，用于将所述已调整偏振方向的探测脉冲聚焦至太赫兹电光晶体；所述太赫兹电光晶体，用于使所述探测脉冲与入射的待测太赫兹脉冲重合，以实现将所述待测太赫兹脉冲的太赫兹场强信号加载到所述探测脉冲中，已加载有太赫兹场强信号的探测脉冲入射至双折射晶体；所述双折射晶体，用于使所述已加载有太赫兹场强信号的探测脉冲生成相互时间延迟的脉冲对，分别为o光脉冲和e光脉冲，所述脉冲对入射至线偏振器；所述线偏振器，用于使所述脉冲对的o光脉冲和e光脉冲均一半透射至光谱仪，透过所述线偏振器的脉冲对偏振方向一致；所述光谱仪，用于记录经所述线偏振器后的脉冲对的光谱干涉数据，以便基于所述光谱干涉数据实现太赫兹电光相位调制测量。2.如权利要求1所述的干涉仪，其特征在于，所述干涉仪还包括光谱相位相干电场重建法技术测量装置，用于在所述探测脉冲入射至展宽器之...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐世祥，郑水钦，刘俊敏，蔡懿，曾选科，上官煌城，
申请(专利权)人：深圳大学，
类型：新型
国别省市：广东,44