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本实用新型公开一种集成芯片测试座，包括：第一基座，包括支架以及与所述支架固定的隔板，任意两隔板之间围合形成第一插槽；第一盖体，具有与第一插槽相接的容腔，第一盖体顶面开设有多个第二插槽；以及多个第一弹性探针，包括固定部、第一弹性臂及第二弹性臂...
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