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半导体装置的制造方法、真空处理装置及基板处理装置制造方法及图纸
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文档序号:17163685
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本发明涉及半导体装置的制造方法、真空处理装置及基板处理装置。在对用于蚀刻形成于基板的被蚀刻膜的掩模进行了该蚀刻后,以简易的方法以抑制被蚀刻膜的损伤的方式去除。实施如下工序:向形成有被蚀刻膜(20)的基板(晶圆W)的表面供给聚合用的原料,形成...
该专利属于东京毅力科创株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过东京毅力科创株式会社授权不得商用。
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