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本发明公开了一种偏光片光学量测系统、量测方法及量测处理设备，所述量测系统包括：量测组件和控制装置；所述量测组件包括依序设置于测试光的光路上的偏光片载台和光接收器件；所述控制装置分别与所述偏光片载台和所述光接收器件连接，用于：控制所述偏光片载...
该专利属于深圳市华星光电技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市华星光电技术有限公司授权不得商用。

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