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本发明提供了一种快速响应的半导体异质结紫外光探测器及其制作方法，其中，快速响应的半导体异质结紫外光探测器，用于对紫外光信号进行快速探测，具有这样的特征，包括：绝缘衬底；二维结构半导体薄膜，设置在绝缘衬底的上端面上；金属电极，镀制在二维结构半...
该专利属于上海理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过上海理工大学授权不得商用。

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