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本实用新型提供了本实用新型的一个方面,提供了一种电路板涨缩测试结构,包括电路板本体,所述电路板本体包括多个层叠设置的电路层板,每个所述电路层板上设置有涨缩标志环,所述多个电路层板上的所述涨缩标志环同心设置且半径相同从而构成一个涨缩标志环组。...该专利属于深圳市迅捷兴科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳市迅捷兴科技股份有限公司授权不得商用。
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