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本发明揭示了一种测试设备及测试方法。所述测试设备包括预修剪模块，用于对一待修剪产品进行第一次参数检测，获得检测结果；数据分析模块，用于对所述检测结果进行分析，获得分析结果；反馈模块，用于依据分析结果作出反馈动作。在进行测试时，由于提供数据分...该专利属于中芯国际集成电路制造（上海）有限公司;中芯国际集成电路制造（北京）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中芯国际集成电路制造（上海）有限公司;中芯国际集成电路制造（北京）有限公司授权不得商用。