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本发明公开了一种多密封系统总漏率测试的测量系统，主要包括标准漏率装置、多种示漏气体气源、真空容器、抽气单元、取样单元、四极质谱分析单元和数据处理单元，其中，将待测组件放入容器内，抽真空得到特征峰对应的离子流大小，作为本底值；再依次分别引入不...
该专利属于北京卫星环境工程研究所所有，仅供学习研究参考，未经过北京卫星环境工程研究所授权不得商用。

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