下载一种腔室温度控制方法、装置及半导体工艺设备的技术资料

文档序号:16963140

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本发明公开了一种腔室温度控制方法、装置及半导体工艺设备,其中,腔室包括对腔室进行密封的上盖和对上盖进行温度控制的冷却系统,该方法包括:判断腔室的当前工艺类型;控制冷却系统,以将上盖的温度保持在对应当前工艺类型的设定温度范围内。本发明腔室温度...
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