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本发明公开了一种全自动AOI粒子压痕检测机，包括检测绑定有IC的LCM的粒子压痕检测单元，所述粒子压痕检测单元配设有独立的IC崩角崩边检测相机(8)；利用粒子压痕检测单元在对LCM进行压痕检测时，FPC检测到IC检测的过程中的一段空隙时间，...
该专利属于大连益盛达智能科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过大连益盛达智能科技有限公司授权不得商用。

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