温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。
本发明公开了一种用于半导体器件1/f噪声上下限频率的检测方法及装置，装置包括：屏蔽箱，用于屏蔽外界噪声干扰；偏置电路，用于获得实验所需的时域波形；前置放大器，用于放大噪声信号；数字示波器，用于显示输入信号的时域波形；PC机，用于处理所输入的...该专利属于吉林大学;白城福佳科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过吉林大学;白城福佳科技有限公司授权不得商用。
温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。
本发明公开了一种用于半导体器件1/f噪声上下限频率的检测方法及装置，装置包括：屏蔽箱，用于屏蔽外界噪声干扰；偏置电路，用于获得实验所需的时域波形；前置放大器，用于放大噪声信号；数字示波器，用于显示输入信号的时域波形；PC机，用于处理所输入的...