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本发明公开了一种消除SONOS器件字线耦合影响读余量的电路,单元结构为2T结构,存储管的漏极接位线,选择管的栅极接第一字线;存储管的栅极接第二字线;同一行单元结构的第一和二字线平行且形成字线耦合电容;第二字线的通过放电管连接到地;读操作时,...该专利属于上海华虹宏力半导体制造有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海华虹宏力半导体制造有限公司授权不得商用。
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本发明公开了一种消除SONOS器件字线耦合影响读余量的电路,单元结构为2T结构,存储管的漏极接位线,选择管的栅极接第一字线;存储管的栅极接第二字线;同一行单元结构的第一和二字线平行且形成字线耦合电容;第二字线的通过放电管连接到地;读操作时,...