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本实用新型公开了一种非接触测试半绝缘半导体电阻率的装置，包括数字示波器、脉冲发生器、容性探头和样品台，容性探头设置在样品台的上方，所述样品台上堆叠有金属电极层和绝缘体层，待测样品放置在金属电极层上，金属电极层与脉冲发生器相连，脉冲发生器频率...
该专利属于广州市昆德科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过广州市昆德科技有限公司授权不得商用。

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