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本发明公开了一种用于芯片设计的功能验证方法及平台，用于在基于PLB总线的芯片设计时，对该芯片内的寄存器和ram模块的读写功能测试，该方法的步骤如下：首先通过读取寄存器和ram模块的信息，建立寄存器信息文档；设计自动脚本模块，该自动脚本模块根...
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