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本发明提供了一种交流110V‑LED芯片亮度的检测方法，包括步骤：A、用低电流正反测试芯片的亮度，并取正反向测试亮度的差值；B、将不同差值段的芯片用光型仪低电流持续点亮，并观察每个单胞的发光情况，确定存在单胞死灯的差值段，并进行重复验证，确...
该专利属于湘南学院所有，仅供学习研究参考，未经过湘南学院授权不得商用。

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