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本发明涉及材料测试技术领域，具体为一种原位透射电镜仿真环境样品杆系统及其使用方法。该系统包括：气密圆形连接器、外围设备、样品杆、计算机、密封腔室、外场微型芯片，具体结构如下：样品杆的一端设置气密圆形连接器，样品杆的另一端设置密封腔室，密封腔...
该专利属于中国科学院金属研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院金属研究所授权不得商用。

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