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二次电源纹波测量装置，涉及电源测试领域，解决了现有二次电源纹波测量存在的测量准确度低的问题。本发明包括与被测二次电源相连的二次电源测量接口；与负载相连的负载接口；与二次电源测量接口相连的阻抗匹配调节网络，用于过滤纹波中的杂波；通过电缆与阻抗...
该专利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院长春光学精密机械与物理研究所授权不得商用。

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