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本发明实施例提供了一种阵列基板检测设备和阵列基板检测方法，解决了现有阵列基板检测方式的检测准确度不高的问题。该阵列基板检测设备包括：光发射装置、光束导向装置、透镜组、液晶调制器和图像采集装置；其中，所述光发射装置构造为向所述光束导向装置发射...
该专利属于昆山国显光电有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过昆山国显光电有限公司授权不得商用。

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