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本发明公开了一种基于结构光的微纳结构二维超分辨检测方法，包括：当投影装置中无光栅时，摄像装置获取一帧灰度图，在其他条件不变的情况下，在投影装置中加入光栅，摄像装置获取一帧条纹变形的结构光场图。分别对两幅图进行Fourier变换，将得到的两频...
该专利属于中国科学院光电技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院光电技术研究所授权不得商用。

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