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本发明属于无损检测技术领域，公开了一种磁致伸缩导波单向检测方法，包括：(1)获得被测构件的频散曲线；(2)设定激励频率和激励次数；(3)确定导波波长；(4)设定激励信号的初相位为0，以设定的激励频率同时进行第一次导波激励和导波检测，激励次数...
该专利属于武汉理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过武汉理工大学授权不得商用。

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