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集成电路直流测试探针设备制造技术
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文档序号:16583145
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本实用新型提供了一种集成电路直流测试探针设备,其包括探针台和探针基座,探针基座的一端设有探针,探针台内设有电磁控件,探针基座的底部设有软磁材料层,当电磁控件通电时,电磁控件对软磁材料层产生电磁吸力,将探针基座固定在探针台上,当电磁控件断电时...
该专利属于成都海威华芯科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过成都海威华芯科技有限公司授权不得商用。
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