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本发明提出了一种基于FPGA的SD卡测试系统，FPGA内部控制电路包括时钟发生与管理模块、PRBS图形发生模块、发送模块、接收模块、命令控制模块、数据处理模块、序列同步模块以及接口控制模块；FPGA通过接口控制模块接收上位机的命令，并将命令...
该专利属于中国电子科技集团公司第四十一研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子科技集团公司第四十一研究所授权不得商用。

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