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干涉仪测量系统定位测头，属于光学加工技术领域，为了解决现有干涉仪测量系统测量复杂且成本高的问题，其包括双触头测量表、表架和六维调整架，表架上表面设置凹槽，双触头测量表设置在表架的凹槽内，表架的下端与六维调整架螺纹连接，六维调整架可调整表架的...
该专利属于长春继珩精密光学技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长春继珩精密光学技术有限公司授权不得商用。

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