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本发明提供一种非易失性半导体存储装置。用于判定疑似合格的判定电路(200)经由配线(PB_UP)、配线(PB_MG)、配线(PB_DIS)而与多个页面缓冲器/读出电路(170)连接。页面缓冲器/读出电路(170)包含当编程校验为不合格时，经...
该专利属于华邦电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过华邦电子股份有限公司授权不得商用。

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