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本发明公开一种测量物体凹痕的系统及方法。该系统包括：封闭箱、平行光光源、光源支架、工业相机、控制器；内部箱顶固定有工业相机；内部侧面箱壁上均匀固定有K个光源支架，在封闭箱侧面箱壁上形成P层Q列，其中P×Q＝K；每一个光源支架上安装一个平行光...
该专利属于国家林业局北京林业机械研究所所有，仅供学习研究参考，未经过国家林业局北京林业机械研究所授权不得商用。

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