一种测量物体凹痕的系统及方法技术方案

本发明专利技术公开一种测量物体凹痕的系统及方法。该系统包括：封闭箱、平行光光源、光源支架、工业相机、控制器；内部箱顶固定有工业相机；内部侧面箱壁上均匀固定有K个光源支架，在封闭箱侧面箱壁上形成P层Q列，其中P×Q＝K；每一个光源支架上安装一个平行光光源，同一高度的平行光光源的入射光与封闭箱的箱底夹角相同，不同高度的平行光光源的入射角不同；封闭箱的箱底用于放置被测物体；工业相机和K个平行光光源均与控制器连接；控制器控制平行光光源，还控制工业相机拍摄被测物体，根据拍摄的图像确定凹痕表面几何尺寸与深度。采用本发明专利技术的系统或方法，实现对物体凹痕的表面几何尺寸和深度的测量，装置简单，成本低，便于组装和拆卸，实用性高。

System and method for measuring object dent

The present invention discloses a system and method for measuring object dents. The system comprises a closed box, a parallel light source, a light source bracket, industrial camera, fixed inside the box top controller; industrial camera; internal side box wall is uniformly fixed with K light source bracket, forming a P layer Q column in a closed box side box wall, where P * Q = K; a parallel light the light source is arranged in each light source bracket, the bottom angle of the same height parallel light incident light and the closed box of the same, different incident parallel light source with different height angle; bottom closed box for placing the object to be measured; industrial K camera and a parallel light source are connected with the controller; the controller control a parallel light source, but also control the industrial camera object, a surface geometry size and depth is determined according to the captured image. By adopting the system or the method of the invention, the measurement of the surface geometric dimension and depth of the dent of the object is realized. The device has the advantages of simple device, low cost, easy assembly and disassembly, and high practicability.

【技术实现步骤摘要】
一种测量物体凹痕的系统及方法
本专利技术涉及物体凹痕测量领域，特别是涉及一种测量物体凹痕的系统及方法。
技术介绍
在日常生活或者工程作业中，物体凹痕通常会影响其正常使用。例如，工程作业中木材或者钢板的表面凹痕，会影响其质量，改变其使用性能，严重时影响工程作业的质量，降低安全性能。目前市场上没有专门测量物体凹痕的方法或者系统，通常通过工作人员目测法大概评估物体凹痕的表面几何尺寸和深度，此测量方式主观性较强，只能作为初步评估。也有一些针对某种特殊材质的物体进行凹痕的研究，但是大多数设备比较复杂，成本投入较高，不适用于日常生活或者工程作业中。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种测量物体凹痕的系统及方法，以解决现有技术中凹痕测量装置复杂且成本高的问题。为实现上述目的，本专利技术提供了如下方案：一种测量物体凹痕的系统，所述系统包括：封闭箱、K个平行光光源、K个光源支架、工业相机、控制器；所述K为大于3的整数；所述封闭箱为圆柱形的封闭箱体，且所述封闭箱不透光；所述封闭箱的内部箱顶固定有所述工业相机；所述封闭箱的内部侧面箱壁上固定有所述K个光源支架，所述K个光源支架均匀置于所述封闭箱的内部侧面箱本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量物体凹痕的系统，其特征在于，所述系统包括：封闭箱、K个平行光光源、K个光源支架、工业相机、控制器；所述K为大于3的整数；所述封闭箱为圆柱形的封闭箱体，且所述封闭箱不透光；所述封闭箱的内部箱顶固定有所述工业相机；所述封闭箱的内部侧面箱壁上固定有所述K个光源支架，所述K个光源支架均匀置于所述封闭箱的内部侧面箱壁上，在所述封闭箱的侧面箱壁上形成P层Q列，其中P×Q＝K，所述P层对应所述侧面箱壁的不同高度，所述Q列对应所述侧面箱壁的不同水平位置；所述K个平行光光源位于所述封闭箱的内部，每一个光源支架上安装一个平行光光源，同一高度的平行光光源的入射光与所述封闭箱的箱底夹角相同，不同高度的平行光光...

【技术特征摘要】
1.一种测量物体凹痕的系统，其特征在于，所述系统包括：封闭箱、K个平行光光源、K个光源支架、工业相机、控制器；所述K为大于3的整数；所述封闭箱为圆柱形的封闭箱体，且所述封闭箱不透光；所述封闭箱的内部箱顶固定有所述工业相机；所述封闭箱的内部侧面箱壁上固定有所述K个光源支架，所述K个光源支架均匀置于所述封闭箱的内部侧面箱壁上，在所述封闭箱的侧面箱壁上形成P层Q列，其中P×Q＝K，所述P层对应所述侧面箱壁的不同高度，所述Q列对应所述侧面箱壁的不同水平位置；所述K个平行光光源位于所述封闭箱的内部，每一个光源支架上安装一个平行光光源，同一高度的平行光光源的入射光与所述封闭箱的箱底夹角相同，不同高度的平行光光源的入射角不同；所述封闭箱的箱底用于放置被测物体；所述工业相机和所述K个平行光光源均与所述控制器连接；所述控制器用于控制所述K个平行光光源的打开与关闭，还用于控制所述工业相机拍摄所述被测物体，根据拍摄的图像获得所述被测物体的凹痕表面几何尺寸与深度。2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述Q＝4，即在所述封闭箱内部的侧面箱壁上同一高度均匀布置4个平行光光源。3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述Q＝N，即在所述封闭箱内部的侧面箱壁上同一高度均匀布置N个平行光光源，所述N为大于2且小于K的整数。4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述系统还包括：传送带，所述传送带位于所述封闭箱的内部箱底，用于传送被测物体；所述传送带的两端对应的所述封闭箱的侧面箱壁上设置有通孔，用于放置被测物体和取走被测物体。5.一种测量物体凹痕的方法，其特征在于，所述方法应用于测量物体凹痕的系统，所述系统包括：封闭箱、K个平行光光源、K个光源支架、工业相机、控制器；所述K为大于3的整数；所述封闭箱为圆柱形封闭的箱体，且所述封闭箱不透光；所述封闭箱的内部箱顶固定有所述工业相机；所述封闭箱的内部侧面箱壁上固定有所述K个光源支架，所述K个光源支架均匀置于所述封闭箱的内部侧面箱壁上，在所述封闭箱的侧面箱壁上形成P层Q列，其中P×Q＝K，所述P层对应所述侧面箱壁的不同高度；所述K个平行光光源位于所述封闭箱的内部，每一个光源支架上安装一个平行光光源，同一高度的平行光光源的入射光与所述封闭箱的箱底夹角相同，不同高度的平行光光源的入射角不同；所述封闭箱的箱底用于放置被测物体；所述工业相机和所述K个平行光光源均与所述控制器连接；所述控制器用于控制所述K个平行光光源的打开与关闭，还用于控制所述工业相机拍摄所述被测物体，根据拍摄的图像获得所述被测物体的凹痕表面几何尺寸与深度；所述方法包括：利用所述工业相机对被测物体进行一次拍摄；根据一次拍摄的图像初步确定所述被测物体凹痕的形状；根据所述被测物体凹痕的形状控制K个平行光光源中第...

【专利技术属性】
技术研发人员：袁东，杨建华，傅万四，于淼，杨光，张端，许心梦，
申请(专利权)人：国家林业局北京林业机械研究所，
类型：发明
国别省市：北京,11