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本实用新型提供一种检测金属线短路的测试结构，包括第一梳齿结构、第二梳齿结构以及蛇形结构，所述第一梳齿结构和第二梳齿结构相对交错设置，所述蛇形结构位于第一梳齿结构和第二梳齿结构之间的间隙之中，测试结构还包括：测试金属线段，测试金属线段位于所述...该专利属于中芯国际集成电路制造（北京）有限公司;中芯国际集成电路制造（上海）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中芯国际集成电路制造（北京）有限公司;中芯国际集成电路制造（上海）有限公司授权不得商用。