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本发明公开一种基于激发发射光谱分离同时测量受体‑供体量子产额之比与消光系数之比的方法，属于FRET检测技术领域。该方法包括如下步骤：测量2种或2种以上受体个数与供体个数比值相同且FRET效率不同的供体‑受体串联样本的激发发射光谱SDA[i]...
该专利属于华南师范大学所有，仅供学习研究参考，未经过华南师范大学授权不得商用。

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