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本发明属于软件缺陷预测技术领域，特别是涉及一种基于特征选择和集成学习的软件缺陷个数预测方法，针对软件缺陷个数的预测中不相关的模块特征损害了缺陷预测模型性能，回归模型均具有不同的预测能力，无法选择最佳回归算法等问题，首先利用基于包裹式的特征选...
该专利属于武汉大学所有，仅供学习研究参考，未经过武汉大学授权不得商用。

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