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本发明针对软件缺陷数据集中不相关特征和冗余特征会降低软件缺陷个数预测模型的性能的问题，提出了一种面向软件缺陷个数预测的特征选择方法。首先利用特征与特征之间的关联性，对特征集进行谱聚类，将相互之间冗余度高的特征聚类到同一个簇中。在聚类的结果中...
该专利属于武汉大学所有，仅供学习研究参考，未经过武汉大学授权不得商用。

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