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本发明公开了一种基于中子光栅干涉仪的暗场成像方法，其特征包括：1移动光栅，将中子光栅干涉仪的工作点固定在光强曲线的峰位；2分别获取背景投影图像和被成像物体的投影图像；3移动光栅，将中子光栅干涉仪的工作点固定在光强曲线的谷位；4分别获取背景投...
该专利属于合肥工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过合肥工业大学授权不得商用。

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