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本发明公开了一种用于晶片加工的装置,包含加热板、安装在加热板上部的腔室,以及安装在腔室底端的导向环,该腔室充有等离子体,刻蚀时,晶片放置在加热板上,导向环内壁开设有导向口,该导向口对应在晶片边缘位置的上方,等离子体可以通过导向口吹向晶片的边...该专利属于上海华虹宏力半导体制造有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海华虹宏力半导体制造有限公司授权不得商用。
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本发明公开了一种用于晶片加工的装置,包含加热板、安装在加热板上部的腔室,以及安装在腔室底端的导向环,该腔室充有等离子体,刻蚀时,晶片放置在加热板上,导向环内壁开设有导向口,该导向口对应在晶片边缘位置的上方,等离子体可以通过导向口吹向晶片的边...