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本发明提供一种存储器自动检错和容错电路，包括自激励产生测试单元、错误地址判断单元、失效地址映射存储单元、地址译码选择单元和备份存储单元。自激励产生测试单元在芯片上电时自动测试主存储单元产生数据结果，错误地址判断单元根据数据结果确定主存储单元...
该专利属于福州瑞芯微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过福州瑞芯微电子有限公司授权不得商用。

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