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自动分析装置制造方法及图纸
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文档序号:16278830
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本发明提供安装有光散射光度计的自动分析装置,在降低外部光线的影响,提高分析精度的同时,安全且使用方便。在本体壳体的内部具有散射光测定部,具有覆盖本体壳体的上表面(410)的可开闭的保护盖(610~630)。在中央的保护盖(610)上形成有遮...
该专利属于株式会社日立高新技术所有,仅供学习研究参考,未经过株式会社日立高新技术授权不得商用。
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