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本发明涉及一种半导体存储装置及存储系统。实施方式提供一种能够提高可靠性的半导体存储装置。实施方式的半导体存储装置包含：第1存储器单元(SU0)，包含依次积层在半导体衬底的上方的第1至第4存储单元(MT)；第2存储器单元(SU1)，包含依次积...
该专利属于东芝存储器株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过东芝存储器株式会社授权不得商用。

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