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本发明公开了一种1‑40GHz在片S参数测量方法，涉及微波/毫米波在片S参数计量技术领域，包括步骤：1）、设计在片S参数验证件的实现形式；2）、设计在片S参数验证件的结构；3）、仿真优化在片S参数验证件；4）、在片S参数验证件定标；5）、定...
该专利属于中国电子科技集团公司第十三研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子科技集团公司第十三研究所授权不得商用。

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