温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明适用电子信息技术领域，提供了一种总剂量效应的探测方法及装置，所述方法包括：对待测芯片中的电路进行可测性设计，构造待测芯片总剂量效应的原始信号，生成原始信号的观测矩阵及观测矩阵中行向量对应的测试向量集，对预设数量个待测芯片进行总剂量辐照...
该专利属于深圳先进技术研究院所有，仅供学习研究参考，未经过深圳先进技术研究院授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。