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本发明实施例提出了一种调试微波器件的方法和设备，其中该方法包括：确定待调试微波器件的性能曲线以及性能曲线的通带区域；选取性能曲线中谐振点的移动方向为接近通带区域所对应的调试方式进行调试，以使谐振点全部处于通带区域内；选取通带区域内各取样点的...
该专利属于深圳市威富通讯技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市威富通讯技术有限公司授权不得商用。

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