一种调试微波器件的方法和设备技术

本发明专利技术实施例提出了一种调试微波器件的方法和设备，其中该方法包括：确定待调试微波器件的性能曲线以及性能曲线的通带区域；选取性能曲线中谐振点的移动方向为接近通带区域所对应的调试方式进行调试，以使谐振点全部处于通带区域内；选取通带区域内各取样点的值大于对应标准值的数量越来多的趋势所对应的调试方式进行调试，直至通带区域内各取样点的值都大于对应标准值以完成对待调试微波器件的调试。以此实现了一种自动化调试的方法，提高了调试的效率。

【技术实现步骤摘要】
一种调试微波器件的方法和设备
本专利技术涉及调试领域，特别涉及一种调试微波器件的方法和设备。
技术介绍
现在随着微波通信技术的发展，双工器、滤波器、合路器等微波器件的需求量以及使用量也越来越大。而现阶段许多微波器件都是无法直接使用，二是需要实现进行调试的，但目前的调试过程都是人工完成，这样导致费时费力，效率低下，且很大程度提高了人力成本。有鉴于此，现在拯待一种高效率的方式来对微波器件进行调试，以降低人力成本。
技术实现思路
以此，本专利技术提出了一种调试微波器件的方法和设备，用以提高调试的效率。具体的，本专利技术提出了以下具体的实施例：本专利技术实施例提出了一种调试微波器件的方法，包括：确定待调试微波器件的性能曲线以及性能曲线的通带区域；选取性能曲线中谐振点的移动方向为接近通带区域所对应的调试方式进行调试，以使谐振点全部处于通带区域内；选取通带区域内各取样点的值大于对应标准值的数量越来多的趋势所对应的调试方式进行调试，直至通带区域内各取样点的值都大于对应标准值以完成对待调试微波器件的调试。在一个具体的实施例中，所述“确定待调试微波器件的性能曲线以及性能曲线的通带区域”包括：通过网络分析仪本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种调试微波器件的方法，其特征在于，包括：确定待调试微波器件的性能曲线以及性能曲线的通带区域；选取性能曲线中谐振点的移动方向为接近通带区域所对应的调试方式进行调试，以使谐振点全部处于通带区域内；选取通带区域内各取样点的值大于对应标准值的数量越来多的趋势所对应的调试方式进行调试，直至通带区域内各取样点的值都大于对应标准值以完成对待调试微波器件的调试。

【技术特征摘要】
1.一种调试微波器件的方法，其特征在于，包括：确定待调试微波器件的性能曲线以及性能曲线的通带区域；选取性能曲线中谐振点的移动方向为接近通带区域所对应的调试方式进行调试，以使谐振点全部处于通带区域内；选取通带区域内各取样点的值大于对应标准值的数量越来多的趋势所对应的调试方式进行调试，直至通带区域内各取样点的值都大于对应标准值以完成对待调试微波器件的调试。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述“确定待调试微波器件的性能曲线以及性能曲线的通带区域”包括：通过网络分析仪器对待调试微波器件进行测试，以获取待调试微波器的性能曲线；根据需求信息确定对应待调试微波器的标准性能曲线；其中不同的需求信息对应不同的标准性能曲线；基于所获取的标准性能曲线确定性能曲线的通带区域。3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述“选取性能曲线中谐振点的移动方向为接近通带区域所对应的调试方式进行调试，以使谐振点全部处于通带区域内”包括：选取性能曲线中待调试的频段区域进行取点，得到多个取样点；针对每一次对待调试微波器件的调试，确定此次调试之前各取样点与此次调试之后各取样点的数值的差值；针对各取样点，若所述差值大于预设值，则对该取样点进行第一标识；若所述差值不大于预设值，则对该取样点进行第二标识；根据各取样点的第一标识与第二标识的移动方向确定谐振点的移动方向；选取移动方向为接近通带区域所对应的调试方式进行调试，直到谐振点全部处于通带区域内。4.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述“选取通带区域内各取样点的值大于对应标准值的数量越来多的趋势所对应的调试方式进行调试，直至通带区域内各取样点的值都大于对应标准值以完成对待调试微波器件的调试”包括：针对通带区域进行取点，得到多个取样点；针对每一次对待调试微波器件的调试，确定此次调试后各取样点与预先获取的标准性能曲线中相同的各取样点的数值的差值；针对各取样点，若所述差值大于预设值，则对该取样点进行第三标识；若所述差值不大于预设值，则对该取样点进行第四标识；通过选取第三标识的数量逐渐变多的调试方式进行调试，直到所有取样点对应的都是第三标识以完成对待调试微波器件的调试。5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，待调试微波器件的调试是基于调谐杆来进行的，该方法还包括：记录多个待调试微波器件的性能曲线中谐振点全部处于通带区域时对应的各调谐杆的调节量；基于所记录的调节量确定各调谐杆的...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈超，张少林，孙昌盛，陈嘉达，
申请(专利权)人：深圳市威富通讯技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44