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一种晶圆加磁测试装置及其测试方法，提供一种固定设置在针卡上的方形骨架电磁铁，用于提供水平的磁场来对待测晶圆中的霍尔传感器进行加磁测试。本发明填补了半导体行业中对水平霍尔传感器晶圆测试的空白，可以较显著的提高测试良率和降低封装成本，提高产品质...
该专利属于普冉半导体（上海）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过普冉半导体（上海）有限公司授权不得商用。

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