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本发明公开了一种基于近场MIMO成像的RCS外推方法，属于电子技术领域。本发明不需要建造大型的微波暗室，大大节省了测试成本，与传统RCS外推技术相比，本发明采用了近场MIMO阵列成像技术，显著减少了数据采集时间，提高了测试速度，适用范围更广...
该专利属于中国电子科技集团公司第四十一研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子科技集团公司第四十一研究所授权不得商用。

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