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本实用新型涉及集成电路分选领域，目的是提供一种集成电路芯片测试定位装置。一种集成电路芯片测试定位装置，包括：下端设有连接插头的底座；所述的集成电路芯片测试定位装置还包括：设于底座上端且设有输料底轨的定位座和两个各位于定位座一侧的金手指，设有...
该专利属于杭州长川科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州长川科技股份有限公司授权不得商用。

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