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存储器控制装置及其存储器控制测试方法制造方法及图纸
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下载存储器控制装置及其存储器控制测试方法的技术资料
文档序号:16065113
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本发明提供一种存储器控制装置及其存储器控制测试方法。存储器控制装置中的控制单元反应恢复信号的接收而依序输出标记信号给逻辑电路,以使逻辑电路依序地发出中止信号中止对应的状态机电路,其中恢复信号为通过延迟就绪信号所产生。因此,可更完整地测试存储...
该专利属于华邦电子股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过华邦电子股份有限公司授权不得商用。
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