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本发明提供一种纯水液膜厚度测量系统，用于测量非透射固体表面的纯水液膜的厚度，包括：激光器，产生激光光束；透镜，将激光光束由线状光束转换为片状光束并入射纯水液膜；相机，接收穿过纯水液膜的反射光束，获得对应的二维图像；以及算机，与相机进行电连接...
该专利属于上海理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过上海理工大学授权不得商用。

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