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本发明的记录介质的特征在于，具备：基板；铂层，其形成在该基板上，(111)面择优取向；以及形成在该铂层上的作为记录层的富勒烯单晶薄膜，在所述富勒烯薄膜的表面使用原子力显微镜测定出的平均表面粗糙度Ra的关于4个以上的视场的平均值为0.5nm以...
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