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基于所执行的访问命令对半导体存储功耗的测试制造技术
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文档序号:16048363
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本发明扩展到用于测试存储设备电源电路(113)的方法、系统以及计算机程序产品。存储设备控制器(102)包括嵌入式测试程序(104)。存储设备控制器响应于接收测试命令而执行测试程序。在一个方面中,测试程序发布多个不同的命令模式(107A、…、...
该专利属于微软技术许可有限责任公司所有,仅供学习研究参考,未经过微软技术许可有限责任公司授权不得商用。
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